VIP-medlem
Transmissionselektronmikroskop HF-3300
Hitachis välkända kylfältsläppande elektronkälla och 300 kV accelererad spänningsteknik skapar tillsammans ultrahögupplöst avbildning och högkänslig a
Produktdetaljer
Transmissionselektronmikroskop HF-3300
Hitachis välkända kylfältsläppande elektronkälla och 300 kV accelererad spänningsteknik skapar tillsammans ultrahögupplöst avbildning och högkänslig analys. Dubbel prism holografi teknik, spektrum av elektronergi förlust av rymdlig upplösning och hög precision parallell nanoelektronstråldiffraction teknik öppnar nya vägar för effektiv, hög precision provanalys.
Egenskaper
Upplösning
0,1 nm (kristallskärm)
0,19 nm (punkt till punkt)
0,13 nm (informationsgräns)
Förstör multiplikator
200 gånger till 1 500 000 gånger
Accelerationsspänning
300 kV, 200 kV*, 100 kV*
- *
- Välj tillbehör
Relaterade produktkategorier
- Fokusera jonstrålar
- Förbehandlingsanläggning för TEM/SEM-prover
Onlineförfrågan
-
Kontakter
-
Företag
-
Telefon
-
E-post
-
WeChat
-
Kontrollkod
-
Meddelandeinnehåll
-